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双能安检机系统的成像原理

2020-12-15 16:16:25 发布者:深圳方吉无限科技有限公司
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双能安检机系统的成像原理

安检机所要检查的物品种类繁多,材质复杂,如果仅仅靠单一的X射线来进行透射成像,得到图像的效果并不理想,大大的提高了安检工作人员识别危险品的难度。因此当今安检机使用的都是双能系统,分别代表高能和低能,通过对高能透射数据和低能透射数据的采集和融合,可以很好的区分不同种类的物品。

X射线的衰减与被测物质的密度,厚度和平均原子序数都有关系,且随着这些因素的增大而衰减增强。因此,安检机在过包时,如果使用单一的单能X射线,透射后得到的数据图像是不能很好对一个高原子序数低厚度的物品与一个低原子序数高厚度的物品进行有效的区分,双能安检机系统一般是由一个连续能谱的X射线源,以及一套能够分别接收高低能数据的探测器系统组成,它之所以能够很好的区分物质的类别,主要是因为对于高能和低能,不同平均原子序数的物质的衰减程度是不一样,低原子序数物质的线性衰减系数随着X射线能量的增加下降的较为剧烈,高原子序数物质的线性衰减系数随着X射线能量的增加下降的较为平缓。因此在双能安检机系统中,高能和低能在同一种物质中的衰减程度是不一样的,通过对高能和低能不同衰减系数的运算和比较,就可以将不同种类,不同厚度的物质有效的区分开来。

双能安检机系统中的X射线穿透检测物体后先被低能探测器吸收,低能探测器探测能谱的低能段,然后射线经过一块铜片滤波,过滤掉低能段,高能探测器探测留下的能谱高能段,采集板将得到的高低能数据传递给PC机进行数据处理和融合,从而得到由双能产生的安检包裹图像。

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