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x光安检机探测技术概述

2020-12-03 15:09:32 发布者:深圳方吉无限科技有限公司
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x光安检机探测技术概述

x光安检机的发展离不开x射线检测技术的进步。作为相对成熟且应用广泛检测技术,x射线检测技术主要包括单能射线安检技术、双能X射线安检技术、双视角X射线安检技术、背散射安检技术、X射线CT探测技术。

单能X射线安检技术是获得被检物按密度及原子序数衰减的黑、白图像,是更早应用于x光安检机上的探测技术,只能用来判断物体形状,对探测隐藏的金属武器比较有效。双能射线安检技术,是利用不止一个X射线能谱和物质相互作用,从不同的高、低能谱信号中得到有关被检物的物质组成信息,主要是与物质的有效原子序数信息相关的R值,可以有效地区分有机物和无机物,应用非常广泛,是x光安检机主流的探测技术,但此技术存在图像重叠、无法获得物质密度的问题。双视角射线安检技术,利用多个视角进行不同角度的照射获得多个二维图像来建构扫描物体的三维图像,克服了x光安检机单视角下重叠物品无法区分的问题,但是存在设备复杂、对系统处理能力要求较高、价格较高等问题。

背散射安检技术,采用飞点扫描原理,通过两次扫描被检物获得2个侧面的散射图像,可以看清楚一定深度内的物质,尤其是探测距离被检物表面较近深度范围内的隐藏域;发射源和探测器在同侧,可以使x光安检机的布局更紧凑;康普顿散射结合飞点技术使得散射可以提供清晰度可比照片的图像,可清楚鉴别有机物和低原子序数材料,相比透射单次检测计量小很多。X射线CT探测技术,采用多层螺旋扫描技术,可以得到被检物的透视图像和被检物断层二维图像以及被检物的三维图像,采用此类技术的x光安检机在扫描速度和探测率方面都有更好的性能。

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